N8130系列超高采樣率超級電容容量內阻測試儀

       ■  電壓范圍：0-6V

       ■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環壽命、充電容量，放電容量、DCIR(直流等效內阻)等參數測試

       ■  采樣&通訊傳輸間隔高達1ms，完全真實還原測試過程數據

       ■  充轉放過程無縫切換，無過充過放

       ■  功能豐富的上位軟件，支持生產分選功能

       ■  每通道對應狀態指示燈，分選更方便

       ■  強大的數據存儲與分析功能 

       ■  百兆以太網通訊

       ■  兼容A/h、W/h、F等多種容量測試方法

容量測量 

       N8130可測量超級電容容量參數，含充電容量和放電容量。測試方法為：對被測超級電容以恒定電流進行充（放）電，在充（放）電過程中記錄時間和電壓參數，通過計算充（放）電過程中電壓對時間的斜率計算容量。用戶可根據IEC等各種測量標準自行選擇電壓、時間參數進行計算。

       充電容量計算公式：

       放電容量計算公式：

       其中：Ur表示額定電壓/U1表示充電容量計算起始電壓 /U2表示充電容量計算截止電壓U3表示放電容量計算起始電壓 / U4表示放電容量計算截止電壓I1表示充電電流 / I2表示放電電流

直流內阻(DCIR)測試 
      N8130具有豐富的直流內阻測量功能，支持業內多種主流DCIR測試方法：多脈沖法、單脈沖法、充轉放法、六步測試法、IEC測試法，可滿足絕大部分用戶測試需求。NGI核心測試技術確保在各種測試方法中獲取高精度內阻測量結果。 QC/T 741法直流等效內阻計算公式： 

      N8130可通過重復充放電循環測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數并提取其衰減曲線。通過分析參數衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環節的改善。 

      超級電容測試過程中需要輸出較大電流，測試線將會引入較大電壓降（線損），影響測量精度。N8130全系列型號均采用四線制接線方式，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測量精度。

      考慮到不同規模的測試應用場景，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測試夾（治）具均為四線制接法。